Ihr Partner für die analytische Rasterelektronenmikroskopie

Rasterelektronenmikroskope (REM)
Neu- & Gebrauchtgeräte mit Wolfram-, LaB6 oder FE-Kathode, individuell auf den Kundenbedarf zugeschnitten

Focused Ion Beam Mikroskope
FIB-REM / PFIB-REM / Dual Column Systeme mit GIS, SPM, ToF-SIMS, Nanomanipulatoren und anderen Analysensystemen

Analysensysteme
EDX, WDX, EBSD, 3D Oberflächenanalyse,
Digitale Bildverarbeitung und Bildanalyse

Probenpräparation
Sputter Coater, Carbon Coater, EB Carbon Coater, Research Coater, Multi-Plasma-Systeme, Ionenätzer und Ionenpolierer

3D-Messverfahren
für REM und FIB-REM, MeX und andere Lösungen

Magnetfeldkompensation
für REM, TEM, FIB-REM & Wafer-Inspection Systeme

Zubehör und Ersatzteile
von der Kathode über den Probenschraubstock
bis zur Schallschutzbox

Einige Einsatzgebiete der TESCAN Rasterelektronenmikroskope,
W-REM, LaB6-REM, FE-REM, FIB-REM und PFIB-REM

▪ Materialwissenschaft
▪ Materialprüfung
▪ Qualitätskontrolle
▪ Entwicklung
▪ Forschung
▪ Forensik
▪ Life Science

▪ Nanotechnologie
▪ Halbleitertechnik
▪ TEM Lamellen
▪ TSV Analyse
▪ 3D Messtechnik
▪ 3D Tomographie
▪ 3D Topographie

▪ Lithographie
▪ Archäologie
▪ Mineralogie
▪ Bergbauindustrie
▪ Mineralverarbeitung
▪ Schadstoffuntersuchung
▪ Feinstaubuntersuchung