Rasterelektronenmikroskope (REM) Neu- & Gebrauchtgeräte individuell auf den Kundenbedarf zugeschnitten Focused Ion Beam Mikroskope FIB-REM / PFIB-REM / Dual Column Systeme mit GIS, SPM, ToF-SIMS, Nanomanipulatoren und anderen Analysensystemen Analysensysteme EDX, WDX, EBSD, 3D Oberflächenanalyse, Digitale Bildverarbeitung und Bildanalyse Probenpräparation Sputter Coater, Carbon Coater, EB Carbon Coater, Research Coater, Multi-Plasma-Systeme, Ionenätzer und Ionenpolierer 3D-Messverfahren MeX Software, Infinite Focus Magnetfeldkompensation für REM, TEM, FIB-REM & Wafer-Inspection Systeme Zubehör und Ersatzteile von der Kathode über den Probenschraubstock bis zur Schallschutzbox