EMIT WORKSHOP
20. bis 21. Juni 2012
 
Ausrichter:
EO Elektronen-Optik-Service GmbH
in Zusammenarbeit mit
 TESCAN a.s.
 TECHNOORG LINDA Ltd.
 CRESSINGTON Scientific Ltd.

 Klocke Nanotechnik GmbH

 
Veranstaltungsort:
Kokerei Hansa, 44369 Dortmund

 

Die EO Elektronen-Optik-Service GmbH, Ihr Partner für die Rasterelektronenmikroskopie, veranstaltete zusammen mit den Firmen TESCAN, Technoorg Linda, Cressington und der Klocke Nanotechnik GmbH einen Workshop rund um die Themen Elektronenmikroskopie, Nanotechnologie, Electron-Beam und Ion-Beam Verfahren.
 

Schwerpunkte des Workshops

Moderne Elektronenmikroskopie mit REM und FIB-REM

Einblicke in Verfahren der Mikro- und Nanotechnologie

Herstellung hochqualitativer Proben für REM, FIB-REM und TEM
durch Elektronen- und Ionenstrahlverfahren

Probenoptimierung
 

Auf dem Workshop vorgestellte Geräte

TESCAN LYRA Focused Ion Beam (FIB) FE-REM mit Nano-Tools

TESCAN MIRA FE-REM mit verschiedenen Analyseverfahren

Technoorg Linda SC-1000 Dual Ion Beam Workstation

CRESSINGTON 328 Ultra-High Resolution E-Beam Coater
 

Workshop Impressionen
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