Die einzigartige One-Touch EDX-Mikroanalyse-Toolbox ist voll integriert in die TESCAN EasySEM™ Steuerung. Mit lediglich einer Berührung des Bildschirms erhält der Anwender die Ergebnisse quantitativer Elementanalyse in Echtzeit. Die im Hintergrund laufende Systemautomation und Selbstdiagnose sichern auch unerfahrenen Anwendern qualitativ hochwertige Ergebnisse.   Wird ein Punktes im Live-Bild des REM gesetzt, erfolgt automatisch die EDX Messung. Ergebnisse werden im Bild dargestellt.   • Möglichkeit der Punkt-, Line-Scan- und Mapping-Messung • Die P/B-ZAF-Routine ermöglicht eine standardfreie Analyse • Die umfassende und präzisierte Atomdaten-Bibliothek für alle Röntgenlinien (K, L, M und jetzt auch N-Linien) garantieren eine sehr hohe Präzision der quantitativen Messergebnisse. • Durch Einsatz eines modernen EDX-Systems sind Geschwindigkeit, Genauigkeit und einfache Messung gegeben. • Unnormierte und normierte Ergebnisausgabe • Anzeige des Spektrums mit Energielinien • Angabe möglicher Fehler   EDX Mikroanalyse Energieauflösung 133 eV (Mn Ka) bei 100 kcps Detektortyp SDD Detektor KühlungPeltier (LN2 frei) Max. Eingangszählrate 150 kcps Detektionsbandbreite von B(5) bis Am(95)   EasyEDX erlaubt die Aufnahme einfacher Mappings, direkt in der Tescan VEGA Software. Durch Ausgabe quantitativer Ergebnisse für jedes Messfeld, kann eine genaue Analyse der Zusammensetzung erfolgen.