Die clevere Alternative zum TableTop REM ... So einfach kann Rasterelektronenmikroskopie sein Die Kombination aus TESCAN VEGA SB Rasterelektronenmikroskop und speziell dafür zugeschnittenem Mikroanalysesystem bildet ein zuverlässiges, leicht zu bedienendes System für die Alltagsarbeit. Einfache Handhabung Prämisse bei der Konstruktion war die einfache Handhabung des Systems. Die einzigartige One-Touch EDX-Mikroanalyse Toolbox ist voll integriert in die TESCAN EasySEM™ Steuerung. Durch lediglich eine Berührung des Bildschirms erhält der Anwender die Ergebnisse quantitativer Elementanalyse in Echtzeit. Die im Hintergrund laufende ausgereifte Systemautomation und Selbstdiagnose sichern auch unerfahrenen Anwendern qualitativ hochwertige Ergebnisse.   SB Kammer- Innengröße Ø 160 mm Türbreite 120 mm Typ euzentrisch X 45 mm mot. Y 45 mm mot. Z 27 mm man. Z’ 6 mm man. Rotation 360° mot. Kippung (Tilt) -90 bis +90° man. Probenhöhe 36 mm max. Mit seinem UniVac-System (sowohl Hoch- als auch Niedervakuum möglich) erlaubt das variable EASYPROBE Untersuchungen unterschiedlicher, auch nichtleitender Proben in unbehandeltem Zustand.   Kathodensystem Wolfram-Haarnadelkathode Auflösung 3,0 nm bei 30 kV Vergrößerung 4,5 bis 100.000 fach Beschleunigungsspannung 200 V bis 30 kV Strahlstrom 1 pA bis 2 µA Kammervakuum (HV-Modus) < 9*10-3 Pa Arbeitsmodi Elektronenoptik Resolution, Depth, Field, Wide Field, Rocking Beam Vakuumsystem Vollautomatisch, inklusive Rotationsvorpumpe und luftgekühlter Turbomolekularpumpe; Pumpzeit ca. 2-3 Minuten Systemvoraussetzungen 230 V / 50 Hz oder 120 V / 60 Hz, 1300 VA, kühlwasserfreies System, trockener Stickstoff 1,5 bis 5 bar, Druckluft 4,5 bis 6 bar, minimale Aufstellfläche 3 x 2,5 m (Geräteabmaße ca. 1,65 x 1,00 m) Windows™ ist ein eingetragenes Warenzeichen der Microsoft Corporation USA und anderer Länder. Wide Field Optics™ und EasySEM™ sind eingetragene Warenzeichen von TESCAN a.s. Wünschen Sie weitere Informationen oder eine Gerätedemonstration? Wir stehen Ihnen gerne zur Verfügung!