Februar
2012
 

TESCAN TIMA REM
 
Basiert auf VEGA oder MIRA REM, präsentiert die Firma TESCAN mit dem TIMA ein vollautomatisches analytisches Rasterelektronenmikroskop mit vollintegriertem EDX-System, für hohen Durchsatz.
Es wurde speziell für den Einsatz in der Bergbau- und mineralverarbeitenden Industrie entworfen, kann aber für viele andere Applikationen eingesetzt werden.
 

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Januar
2012
 

TESCAN Control Panel II

Ab sofort im Programm ist das neu gestaltete Tescan Control Panel II mit Multifunktions-LCD-Display. Es bietet unter anderem eine optimierte Ergonomie für den Zweihandbetrieb.
 

Nähere Einzelheiten finden Sie hier.
 

 
Dezember
2011
 

EO WORKSHOP 2012

Die EO Elektronen-Optik-Service GmbH veranstaltet 2012 zusammen mit mehreren Vertriebspartnern den EMIT-Workshop rund um die Themen Elektronenmikroskopie, Nanotechnologie, Electron-Beam und Ion-Beam Verfahren.
 
Nähere Einzelheiten finden Sie hier.
 

 
November
2011
 

Technoorg Produkte bei EO

Technoorg Linda
Neu in unserem Produktportfolio
sind die Ion Mill Systeme und andere Produkte zur Probenpräparation, Probenoptimierung und Probenherstellung des Herstellers Technoorg.
 
Gleichzeitig übernimmt die EO Elektronen-Optik-Service GmbH die Generalvertretung von Technoorg Linda im deutschsprachigen Raum.
 
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Oktober
2011
 

Projekt NanoWerkbank

Unsere neue Website zum
Projekt “Nanowerkbank”
www.nano-werkbank.de ist online!
 

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Oktober
2011
 

Plasma Focused Ion Beam FE-REM

Anfang Oktober 2011 stellte die Firma TESCAN das neue FERA-XMH vor; ein hochauflösendes Schottky FE-REM mit voll integriertem “PFIB” Plasmaquellen Focused Ion Beam System.
 

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August
2011
 

Projekt NanoWerkbank

Die EO Elektronen-Optik-Service GmbH beteiligt sich als Partner am Projekt “Nanowerkbank, Erweiterung von Rasterelektronen- und Ionen- Mikroskopen mit Nanorobotik und Nanoanalytik”.
 

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Juli
2011
 

TESCAN FIB-Säulen

Für die VELA und LYRA FIB-REM bietet TESCAN nun drei unterschiedliche FIB-Säulen. Zur Auswahl stehen Säulen mit Ga- oder AuSi-Flüssigmetall-Ionenquelle.
 

FIB-Säulen

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Mai
2011
 

TESCAN GM-Probenkammer

Noch größer, noch mehr Ports, noch mehr Anschlussmöglichkeiten. Die große neue GM Probenkammer ist für alle Tescan Serien
(VEGA, MIRA, VELA, LYRA) erhältlich.
 

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TESCAN GM Probenkammer

 
November
2010
 

Termine für Schulungen 2011 stehen fest

Anfang April 2011 veranstaltet die Firma EO ein dreitägiges Anwender-Intensivtraining für Nutzer von TESCAN Rasterelektronenmikroskopen. Wie immer findet es in unserer Dortmunder Firmenzentrale statt.
 

Ende Mai 2011 folgt in Zusammenarbeit mit Oxford Instr. ein dreitägiger EDX Kurs, an dem auch Nutzer von REM anderer Hersteller teilnehmen können. Auch diese Schulung findet in der Dortmunder Zentrale statt.
 

Klicken Sie für nähere Einzelheiten, Anmeldeformulare etc. auf die Bilder.
 

 
Februar
2010
 

TESCAN REM3

Mit Beginn des neuen Jahrzehnts präsentiert die Firma Tescan die dritte Generation ihrer VEGA und MIRA Rasterelektronenmikroskope. Neben neuen Design bieten die Geräte dem Anwender neue und zusätzliche Features.
 

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Das neue Tescan VEGA LM W-REM