Focused Ion Beam Mikroskope TESCAN VELA, LYRA, FERA Focused Ion Beam und Plasmaquellen Focused Ion Beam Dual Column (Zweisäulen) REM mit Wolfram- oder FE-Kathodensystem Vakuumsystem High Uni High Uni High Uni Hochvakuum X X X X X X Niedervakuum — X — X — X W-Kathode X X — — — — LaB6-Kathode O O — — — — FE-Kathode — — X X X X XM-Kammer X X X X X X GM-Kammer X X X X X X (Gallium) Canion X X O O — — (AuSi) Canion C31X — — O O — — (Gallium) Cobra — — X X — — (Xenon) Plasma — — — — X X LVSTD Detektor — O — O — O X = Standard, O = Option, - = nicht erhältlich VELA / LYRA / FERA Detektoren / Kammer Kombination XM GM SE X X BSE X X R-BSE O O (nur bei Uni-Vac) LVSTD O O TE O O KL O O SITD O O EBIC O O EDX O O WDX O O EBSD O O TOF-SIMS — O AFM-STM — O X = Standard, O = Option, - = nicht erhältlich Jetzt auch erhältlich mit der neuen TESCAN GM-Probenkammer sowie drei unterschiedlichen FIB-Säulen Mit seinen VELA und LYRA Focused Ion Beam Mikroskopen (FIB-REM) bietet TESCAN hervorragende Werkzeuge für den Einsatz in der Nanotechnologie an. Diese eignen sich sowohl für den Einsatz in Forschung wie auch in der Industrie, für die Untersuchung von Nanopartikeln bzw. Nanomaterialien sowie die für Nanoanalytik oder Nanomanipulation. Nanomanipulator, Nano, Nanotechnik, Analytik Machen Sie mit beim Projekt Nanowerkbank!     Mehr zum Thema Nanomanipulation hier.