Tescan FIB Focused Ion Beam / Dual Beam REM Rasterelektronenmikroskop GM-Kammer: 20 Ports und unzählige Möglichkeiten   Die GM Probenkammer mit ihren zwanzig Ports ist modular aufgebaut. Auf diese Weise erlaubt die Kammer die Kombination verschiedener Säulen (ink. Dual-GIS), Analysensysteme, Manipulatoren und Zusatzgeräte. Die GM-Probenkammer ist erhältlich für alle FIB-REM bzw. PFIB-REM Modelle.   REM + FIB + PFIB + GIS + SPM + EDX + EBSD + TOF-SIMS vergrößern Alles in einem Gerät (siehe Lyra) • REM Rasterelektronenmikroskop (Scanning Electron Microscope) • FIB Fokussierter Ionenstrahl (Focused-Ion-Beam) • SPM Rastersondenmikroskop (Scanning Probe Microscope) • TOF-SIMS Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometrie (Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry) • EDX Energiedispersive Röntgenspektroskopie (Energy Dispersive X-Ray Analysis) • EBSD Kristallgitterbeugung rückgestreuter Elektronen (Electron Back Scattered Diffraction) • EBIC Elektronenstrahl-induzierter Strom (Electron Beam Induced Current) • SE Sekundärelektronen (Secondary Electrons) • BSE Rückstreuelektronen (BSE - Backscattered Electrons) • +++ Nanomanipulation, Nano-Kathodolumineszenz, GIS, WDX und mehr erhältlich für VELA / LYRA / FERA Wünschen Sie weitere Informationen oder eine Gerätedemonstration? Wir stehen Ihnen gerne zur Verfügung!