Magnetfeldkompensation

Hochauflösende Elektronenmikroskope (REM, TEM, HRTEM, FIB-REM) reagieren sehr empfindlich auf Schwankungen des Magnetfelds in ihrer Umgebung.
Wechselnde Felder beeinflussen den Elektronenstrahl, wodurch die Auflösung und die Messgenauigkeit verschlechtert werden. Schützen Sie ihr Elektronen- mikroskop effizient durch die Stabilisierung des umgebenden Magnetfelds.

 
Die Skizze oben zeigt ein Rasterelektronenmikroskop, das mit einer Spicer Consulting Magnetfeldkompensation ausgestattet ist. Der Magnetfeld-Sensor ist auf Höhe der Basis der Elektronensäule positioniert. Die Kabel sind bei dieser typischen Installation an den Wänden und an der Decke montiert. Zur Verdeutlichung der Achsen wurden die Kabel in der Skizze eingefärbt.
Diese Standardinstallation zur Eliminierung störender Wechselstromfelder besteht aus einer Magnetfeld-Kontrolleinheit, einem Magnetfeld-Sensor sowie drei Kabeln (X, Y, Z).
 

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