hochauflösende Schottky FE-REM TESCAN stellt mit den MIRA REM seine neue Serie von Hochleistungs-FE-REM mit einem Schottky-Feldemissions-Kathodensystem vor. Wichtigste Merkmale der MIRA FE-REM vergrößern Schottky Emitter mit hoher Effizienz für brillante, hochauflösende und rauscharme Bilder, sowie hohem Strahlstrom für analytische Aufgaben Einzigartige 3-Linsen-Elektronenoptik (»Wide Field Optics™«), mit spezieller Tescan-Zwischenlinse zur Optimierung der Strahl-Apertur für verschiedenste Arbeits- und Darstellungsmodi Echtzeit-Strahloptimierung (»In-Flight Beam Tracing™«) für bestmögliche Abbildungs- und Analyseeigenschaften, unter Einbeziehung der anerkannten Software »Electron Optical Design« 3D-Live-Stereo erlaubt einzigartige Ansichten In-Beam-Sekundärelektronen-Detektor für Höchstauflösung Ausgezeichnete analytische Möglichkeiten; bis zu 20 Kammerflansche mit optimierter analytischer Geometrie erlauben die gleichzeitige Adaption von EDX, WDX und EBSD Vollautomatisierte Gerätevoreinstellung und -optimierung, inklusive Einstellung und Strahloptimierung der Elektronenoptik Hervorragendes Preis- / Leistungsverhältnis Aus verschiedenen Varianten, Kammertypen und Komponenten lässt sich ein für Ihre Anforderungen und Ihr Budget optimal passendes REM zusammenstellen. TESCAN MIRA Kammer Spezifikationen LM XM Kammerinnengröße Ø 230 mm 285 x 340 mm (B,T) Türbreite 148 mm 285 x 320 mm (B,H) Typ kompuzentrisch kompuzentrisch X 80 mm mot. 130 mm mot. Y 60 mm mot. 130 mm mot. Z 47mm mot. 100 mm mot. Rotation 360° mot. 360° mot. Kippung (Tilt) -80 bis +80° mot. -30 bis +90° mot. Probenhöhe 81 mm max. 145 mm max. MIRA REM sind auch erhältlich mit spezieller GM Multi-Port-Kammer TESCAN MIRA REM Spezifikationen Kammertyp LM- / XM- Vakuumtyp H U   Auflösung     Hochvakuum-Modus (In-Beam SE) 1 nm bei 30 kV 1,2 nm bei 15 kV 2 nm bei 3 kV 3,5 nm bei 1 kV 1 nm bei 30 kV 1,2 nm bei 15 kV 2 nm bei 3 kV 3,5 nm bei 1 kV Niedervakuum-Modus (LVSTD)  — 1,5 nm bei 30 kV   Vakuum     Hochvakuum-Modus < 9*10-3 Pa < 9*10-3 Pa Niedervakuum-Modus  — 7 - 150 Pa Arbeitsmodi Elektronenoptik Resolution, Depth, Field, Wide Field, Channelling Vergrößerung ca. 2 bis 1.000.000 fach (je nach Kammermodell) Beschleunigungsspannung 200 V bis 30 kV Kathodensystem Feldemission (Schottky Emitter) Strahlstrom 1 pA bis 100 nA Vakuumsystem Vollautomatisch, inklusive Rotationsvorpumpe und luftgekühlter Turbomolekularpumpe; abgesichert gegen Stromausfall; Pumpzeit ca. 2-3 Minuten Systemvoraussetzungen 230 V / 50 Hz oder 120 V / 60 Hz, 1300 VA, kühlwasserfreies System, Druckluft 4,5 bis 6 bar, trockener Stickstoff 1,5 bis 5 bar, minimale Aufstellfläche 3 x 3 m (Gerät ca. 2,20 x 1,25 m) Wide Field Optics™ und In-Flight Beam Tracing™ sind eingetragene Warenzeichen von Tescan, a.s. Windows™ ist ein eingetragenes Warenzeichen der Microsoft Corporation USA und anderer Länder.   TESCAN TRACE GSR Die TESCAN MIRA REM sind, ebenso wie die TESCAN VEGA REM auch als “TRACE GSR” Modelle mit integriertem EDX-System und Software zur GSR-Analyse erhältlich.   Nähere Einzelheiten finden Sie hier.     Wünschen Sie weitere Informationen oder eine Gerätedemonstration? Wir stehen Ihnen gerne zur Verfügung!