Bei den REM der Tescan MIRA Serie steuert und kontrolliert die auf Windows™ Basis arbeitende Software alle Funktionen des Rasterelektronenmikroskops.
Die wichtigsten Funktionen im Überblick:
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Mehrere Sprachen wählbar (Deutsch, Englisch, Französisch ...)
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Mehrere individuell konfigurierbare Benutzerprofile (mit Passwortschutz)
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Graphische Oberfläche in vertrauter Windows™-Umgebung
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Leichte Bedienung per intuitiver und ergonomischer Softwaresteuerung
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Vollautomatische Einstellung des Mikroskops inklusive Elektronenoptik und Zentrierung
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Echtzeit-Strahloptimierung (»In-Flight Beam Tracing™«) für bestmögliche Abbildungs- und Analyseeigenschaften unter Einbeziehung der anerkannten Software »Electron Optical Design«
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Bildverwaltung mit Suchfunktion
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Bildspeicherung als TIF, BMP, JPG oder in andren Format
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Berichtsfunktion (auch mit eignen Vorlagen einrichtbar) mit Exportfunktion
Dank vollautomatisierter Elektronenoptik ist die Benutzung des Mikroskops stark vereinfacht und erlaubt auch unerfahrenen Benutzern die Erstellung qualitativ hochwertiger, reproduzierbarer Ergebnisse oder Abbildungen.
Folgende Funktionen sind vollautomatisiert, sie können aber auch mittels Trackball und Maus manuell gesteuert und feinjustiert werden:
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Automatische Schottky-Emitter-Einstellung für optimale Elektronenemission bei größtmöglicher Schonung der Kathode
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Gun Alignment zur Maximierung der Strahlenergie
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Kompensation bei Änderung der Beschleunigungsspannung
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Kontrast- und Helligkeitsaussteuerung für alle Signalarten
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Wahl der Scan-Zeit für ein möglichst rauschfreie Abbildung
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Auto Fokus
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Astigmatismus-Korrektur
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Automatische Optimierung des Strahldurchmessers (COSS): - In Abhängigkeit von der Vergrößerung (Opti Mag) - Automatische Anpassung des Strahldurchmessers bei Vorgabe des Probenstroms
