Magnetfeldmessung Hochauflösende Elektronenmikroskope (REM, TEM, FIB-REM etc.) reagieren empfindlich auf Schwankungen des Magnetfelds in ihrer Umgebung. Wechselnde Felder können den Elektronenstrahl beeinflussen, wodurch die Auflösung und die Messgenauigkeit verschlechtert werden.   Schützen Sie ihr Elektronenmikroskop durch die Kompensation des umgebenden Magnetfelds.   Auf Anfrage messen und analysieren wir die Magnetfeldumgebung Ihres Gerätesystems und bieten Ihnen gegebenenfalls Lösungsvorschläge zur Verbesserung der Effizienz Ihres Elektronenmikroskops.     Für nähere Angaben stehen wir Ihnen gerne zur Verfügung.