Magnetfeldkompensation

SC 22

Das Elektronenmikroskop wird durch die Stabilisierung des umgebenden Magnetfelds geschützt

Passt sich an Feldschwankungen innerhalb von 100 µs automatisch an

Misst und löscht das Feld

Mikrocomputer für einfache Bedienung

Wechselstromfeld-Kompensation von 0,5 Hz bis 5 kHz
50 fache Feldverbesserung (typisch)

Voll dreiachsiges System (X, Y, Z)

Bis zu 60 mG (6,0 µT) pk-pk Optimierungsrate

USB Monitoring Port


SC 20

Das Elektronenmikroskop wird durch die Stabilisierung des umgebenden Magnetfelds geschützt

Passt sich an Feldschwankungen innerhalb von 100 µs automatisch an

Überwacht und löscht das Feld

Einfache »einstellen und vergessen« Bedienung

Gleich- und Wechselstrom-Sensoren

Wechselstromfeld-Kompensation 0,5 Hz bis 5 kHz,
50 fache Feldverbesserung bei 60 Hz (typisch)

Gleichstromfeld-Kompensation bis zu 2,5 kHz,
200 fache Feldverbesserung bei Gleichstrom

Voll dreiachsiges System (X, Y, Z)

Bis zu 80 mG (8,0 µT) pk-pk Optimierungsrate


SC 20 FAST
zusätzliche Variante des bewährten SC 20 Magnetfeldkompensationsgeräts.

Es wurde optimiert, um hochfrequente Störfelder bis zu 10 kHz - wie sie beispielsweise an Fertigungsstraßen in der Chipherstellung beim automatisierten Transport von 300 mm Wafern entstehen - um einen Faktor > 10 zu verringern.

Nanomanipulation im Rasterelektronenmikroskop - Die Nanowerkbank