Für die Grenzflächenuntersuchung (Halbleitertechnik, dünne Film-Layer etc.) durch Transmissionselektronenmikroskope (TEM) ist es extrem wichtig, Proben von höchster Qualität zu haben. Technoorg bietet eine komplette Produktreihe zur Herstellung solch hochwertiger Querschnittsproben. Die Produkte der Technoorg Micro Serie sind zusätzlich bestens für die Probenpräparation und Probenoptimierung in der Nanotechnologie oder Metallographie geeignet. | 
